膜層探視儀AE3600

無(wu)損(sun)Low-e膜層探視儀。

幫(bang)助分辨(bian)Low-e膜層位置，以免安裝或者清(qing)洗(xi)時(shi)發生錯(cuo)誤，可以在玻璃的包裝未拆(chai)除時(shi)測量。

            國家玻璃質量監督檢測中心
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